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      開爾文探針

      簡要描述:環境壓力光發射光譜(APS)係統通過光發射測量材料在環境條件下的絕對功函數,不需要真空。APS的激發範圍為3.4 eV至7.0 eV,這意味著APS能夠測量金屬的絕對功函數和半導體的電離勢,同時用開爾文探針測量表麵費米能級。

      • 產品型號:APS04
      • 廠商性質:經銷商
      • 更新時間:2024-05-16
      • 訪  問  量:167
      詳細介紹

      開爾文探針係統KP技術在使研究人員能夠改進其材料的特性方麵處於Leading position地位。

      芭乐视频最新下载大全的專業知識支持新興和材料技術的發展。

      目前令人興奮的增長領域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究,然而這項技術可以應用於許多科學領域

      開爾文探針


      開爾文探針

      掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用於測試導電材料的功函或半導體材料表麵的表麵電勢,表麵功函。由材料表麵最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試係統。

      特性

      •在空氣中光電發射功函數

      •密度的狀態測量

      •3.4 eV至7.0 eV能量範圍

      •測量所有半導體波段

      開爾文探針接觸電位差

      應用領域:

      •有機和非有機半導體

      •金屬和金屬合金

      •薄膜和表麵氧化物

      •太陽能電池和有機光伏

      •腐蝕和納米技術



       


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